關(guān)鍵技術(shù)
纮康科技是以類比線路為核心技術(shù)之晶片設(shè)計(jì)廠商，專精于高性能資料轉(zhuǎn)換器相關(guān)領(lǐng)域之開發(fā)。
堅(jiān)守承諾
作為客戶長期策略合作伙伴，我們深知高性能、低功耗及品質(zhì)穩(wěn)定的晶片解決方案是成功產(chǎn)品的致勝因素。

HY2120
2節(jié)離子/聚合物電池保護(hù) IC
1. 概述
HY2120 系列 IC，內(nèi)置高精度電壓檢測電路和延時(shí)電路，是用于 2 節(jié)串聯(lián)離子/聚合物可再充電
電池的保護(hù) IC。
此系列IC適合于對(duì)2節(jié)串聯(lián)可再充電離子/聚合物電池的過充電、過放電和過電流進(jìn)行保護(hù)。
可以代用光RICOH的R5460N系列的。一樣的性能，一半的價(jià)格！

纮康科技與上下游供應(yīng)鏈資源垂直整合，發(fā)揮的生產(chǎn)效能，持續(xù)打造具成本效益的晶片方案，滿足客戶及時(shí)進(jìn)入市場的需求。

舉例而言，在電子秤量測應(yīng)用領(lǐng)域即“無需開關(guān)，秤重自動(dòng)開機(jī)”之關(guān)鍵特性，幫助客戶設(shè)計(jì)出別具競爭優(yōu)勢的終端產(chǎn)品，獲得市場廣泛運(yùn)用與認(rèn)同，居于地位。
各延遲時(shí)間由內(nèi)部電路設(shè)置（不需外接電容）
過充電檢測延遲時(shí)間 典型值 1000ms
過放電檢測延遲時(shí)間 典型值 110ms
放電過流檢測延遲時(shí)間 典型值 10ms
 充電過流檢測延遲時(shí)間 典型值 7ms
 負(fù)載短路檢測延遲時(shí)間 典型值 250μs
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